計算器自檢/TI-89
此方法也可能適用於TI-92和Voyage 200，但尚未經過測試。
進入自檢
1. 首先按下鍵，進入計算主頁面。然後按下鍵（PrgmIO），打開程序輸入輸出界面。
2. 按下，隨後按下,屏幕上將顯示計算器的信息，類似這樣：
Copyright © 1998 Texas Instruments Inc. Copyright © 1998 Soft Warehouse Inc. Version 2.09 03/27/2003
（若使用其他的系統版本，可能顯示有所不同。） 3. 按下，隨後按下(S)，進入自檢主菜單。下面將講解菜單的每個項目。按下每個項目標號對應的按鍵即可進入該項目。
菜單項和功能
1) Flash Test
檢測計算器的閃存（flash ROM）。
進入此項目後，計算器會顯示Checking BASE CODE。若flash ROM沒有故障，隨後會返回主菜單。如有故障可能會出現其他提示。
2) RAM Test
注意：這個測試會清除RAM內的所有程序和數據！在測試之前，務必將RAM中有用的數據備份或歸檔。
這個測試用於檢驗計算器的運行內存（RAM）。
進入之後，屏幕上將出現多條黑線且不斷地滾動。
這個測試不會自行停止。要停止測試，按下。此時計算器將徹底重啟（區別於待機中恢復），恢復默認設置項，RAM內全部程序和數據都將清空。
3) Keyboard Test
這個測試用於測試計算器的鍵盤。
進入後，計算器會顯示一排黑方塊，每個黑方塊對應着計算器上的一個按鍵（除了）。當按下一個按鍵時，對應的黑方塊就會熄滅，以表示該按鍵工作正常。您可以以任意順序測試按鍵，但不要按下，否則測試將被中斷。應直到其他全部按鍵都測試通過後再按下，此時計算器將回到自檢主菜單。
如果因按鍵故障而無法完成這個測試，按下即可退出測試，但計算器會顯示KEYBOARD TEST FAILED（鍵盤測試失敗）。按任意鍵即可回到主菜單。
4) LCD Test
這個測試項下有一個子菜單，用於測試屏幕的不同特性。在進入每個子菜單項後，按任意鍵即可返回子菜單。
1)) 1 bit checkerboard
選擇後，屏幕將交錯地顯示像素（第一個像素黑，第二個像素白，以此類推）。可用於檢測顯示屏的壞線或顯示干擾等問題。
2)) 8 bit checkerboard
與1))相同，但屏幕顯示的是類似國際象棋棋盤的圖案。
3)) All on
整個屏幕全黑，用來檢測壞點。
4)) All off
整個屏幕全白。
5)) Box pattern
整個屏幕只有最外一圈的像素為黑色，其餘為白色。
6)) Auto cycle
屏幕將不斷地循環顯示從1))到6))的圖案。您需要按來停止此過程並返回子菜單。
7)) Return to main menu
返回主菜單。
5) IDD off test
此項目用來測試計算器的電源休眠功能。選擇此項目後，計算器將進入休眠狀態，按回到測試主菜單。
6) LOW battery test
此項目用於測試計算器的電池。選擇此項目後，屏幕將顯示Level x detected（x為電池電量，分為3級）。按下後，屏幕顯示Battery test FAILED（尚不清楚電池測試未通過的原因，可能與使用鎳氫電池有關）。再次按下，顯示Press ON to continue。再次按下將回到主菜單。
7) HI Volt Contrast Test
此項目用於檢測顯示屏的品質。選擇此項目後，整個屏幕會呈現幾乎全白的狀態，但仔細觀察應能夠看到其中有類似國際象棋棋盤的圖案。按返回主菜單。
8) LO Volt Contrast Test
功能與7相同，但顏色相反。
9) Oscillator Test
選擇此項目後，屏幕顯示Oscillator Test，幾秒鐘後屏幕將顯示：
DATA=0003BF93 DATA=00000056 TEST PASSED
使用不同的系統版本和計算器型號可能顯示不同的結果。按返回主菜單。
0) Return
回到顯示系統信息的界面。
退出自檢
如果要在顯示系統信息時退出，按下後按下(QUIT)即可。
如果要在自檢菜單退出，先按下（Return），再按下，最後按下(QUIT)即可。
注意：退出自檢後算式輸入行底端的橫線和狀態顯示可能會缺失，屬正常情況。完全重啟計算器即可恢復正常。